1、在試品關(guān)閉電源的情況下,先將溫度降低到-50°C,維持4個(gè)鐘頭;切勿在試品接電源的情況下開(kāi)展低溫檢測(cè),十分關(guān)鍵,由于接電源情況下,集成ic自身便會(huì)造成+20°C之上溫度,因此上海恒溫恒濕試驗(yàn)箱在接電源情況下,一般較為特別容易根據(jù)低溫檢測(cè),務(wù)必先將其“凍透”,再度接電源開(kāi)展檢測(cè)。
2、啟動(dòng),對(duì)試品開(kāi)展功能測(cè)試,比照特性與常溫下對(duì)比是否一切正常。
3、開(kāi)展高低溫試驗(yàn),觀查上海恒溫恒濕試驗(yàn)箱是否有數(shù)據(jù)對(duì)比不正確。
4、提溫到+90°C,維持4個(gè)鐘頭,與低溫檢測(cè)反過(guò)來(lái),提溫全過(guò)程持續(xù)電,維持集成ic內(nèi)部的溫度一直處在高溫情況,4個(gè)小時(shí)后,實(shí)行2、3、4測(cè)試流程。
5、高溫和低溫檢測(cè)各自反復(fù)10次。
假如檢測(cè)全過(guò)程出現(xiàn)一切一次,不可以一切正常工作中的情況,則視作檢測(cè)不成功。